1）偏光显微镜的特点 将普通光改变为偏振光进行镜检的方法，以鉴别某一物质是单折射（各向同行）或双折射性（各向异性）。双折射性是晶体的基本特性。因此，偏光显微镜被广泛地应用在矿物、化学等领域，在生物学和植物学也有应用。

2）偏光显微镜的基本原理 偏光显微镜的原理比较复杂，偏光显微镜必须具备以下附件：起偏镜，检偏镜，补偿器或相位片，专用无应力物镜，旋转载物台。

3）偏光镜检术的方式 a.正相镜检:又称无畸变镜检，其特点是使用低倍物镜，不用伯特兰透镜,被研究对象可直接用偏振光研究。同时为使照明孔径变小，推开聚光镜的上透镜。正相镜检用于检查物体的双折射性。 b.锥光镜检：又称干涉镜检，研究在偏振光干涉时产生的干涉图样，这种方法用于观察物体的单轴或双轴性。在该方法中，用强会聚偏振光束照明。

4）偏光显微镜在装置上的要求 a.光源：最好采用单色光，因为光的速度，折射率，和干涉现象由于波长的不同而有差异。一般镜检可使用普通光。 b.目镜：要带有十字线的目镜。 c.聚光镜：为了取得平行偏光，应使用能推出上透镜的摇出式聚光镜。 d.伯特兰透镜：聚光镜光路中的辅助部件，这是把物体所有造成的初级相放大为次级相的辅助透镜。它可保证用目镜来观察在物镜后焦平面中形成的平涉图样。

5）偏光镜检术的要求 a.载物台的中心与光轴同轴。 b.起偏镜和检偏镜应处于正交位置。 c.制片不宜过薄。